產品介紹

此系統與手套箱無縫整合，為分析敏感材料和組件提供了理想的環境。

PD-QE 結合優良科技與使用者友善的設計，讓研究人員和工程師能夠探索光譜學的新領域，并釋放光電探測器的全部潛力。

光電探測器基本特性分析設備的可用性對于這些組件的開發者和用戶都至關重要。

　不同的應用領域，例如光電二極管制造商、光纖通訊系統開發商、太陽能電池板制造商、大學和研究機構的實驗室以及質量控管公司，在功能方面可能有其他特定需求，包括所需的檢測范圍、分辨率或對特定環境條件的適應性。

傳統的量子效率系統在新型光電探測器的測試中面臨許多挑戰。 例如：

　　1.偏置電壓無法超過12V：傳統量子效率系統使用鎖相放大器，其承受直流電壓無法過大，因此在一般的量子效率測試儀，電偏壓無法施加超過12V。

　　2.無法做噪聲頻率分析。

　　3.無法直接測得NEP與D*。

光焱科技針對新世代的光電探測器（PD）提供了完整解決方案，命名為PD-QE。

特色

1.高精度測量：

　PD-QE提供高精度的EQE和IV曲線測量，光源不穩定度低于1%，確保測量結果的準確性和一致性，滿足客戶對高精度測量的期望。

2.集成多功能性：

　PD-QE 集成了多種功能，包括 EQE 測試、IV 曲線檢測、D* 分析、NEP 分析和頻率噪聲頻譜分析。 這種整合為客戶提供了一站式性能評估解決方案，滿足他們對整合多功能性的期望。

3.靈敏度測試：

　PD-QE 能夠測量高分辨率的光電流（分辨率高達 10^-14 安培），使其適用于測試高靈敏度的光電探測器。 這有助于客戶準確評估探測器在低光照條件下的性能，滿足他們對靈敏度測試的期望。

4.寬波長范圍：

　PD-QE 適用于各種光電探測器，無論是在研發階段還是生產線上，都能提供先進的性能測試能力。

5.優異的光束控制技術：

　PD-QE 通過其光束耦合模塊提供精確的光束尺寸控制 （1*1 平方毫米），滿足精確光束控制的要求。 這讓客戶能夠進行精確的性能測試，并模擬特定的應用情境。 這滿足了客戶對精確光束控制的需求，幫助他們執行更準確的效能評估和優化。

6.寬廣的偏壓電壓范圍：

　PD-QE支持從20伏特到200伏特的偏壓電壓調整，滿足客戶在不同電壓條件下測試光電探測器的需求。 這有助于客戶全面評估產品效能，并確保在各種應用條件下穩定運作。

7.易于操作和維護：

　PD-QE 采用用戶友善的設計，操作簡單，維護成本低，滿足客戶對易用性和維護性的需求。 這有助于客戶節省時間和成本，同時保持高效的測試流程。

8.客戶支持和技術服務：

　PD-QE 提供專業的客戶支持和技術服務，協助客戶快速解決使用過程中遇到的問題，確保設備穩定運作。 這滿足了客戶對及時有效支持的需求，幫助他們維持高效的測試流程。

規格

　● 光源不穩定性< 1%

　● 單色光模：波長范圍 300~1100 nm。

　● 光斑耦合模組光斑尺寸：1*1mm2 。

　● 偏置電壓也可由20V到200V。

　● 可測量高分辨率的光電流，分辨率最高可達10~14 A。

　● 波長擴充可達1800 nm。

應用

PD-QE光譜響應測試與光電傳感器特性分析可用于：

　● 第三代半導體材料：光電二極體/光電探測器。

　● 有機光傳感器 （OPD， Organic Photodiode）。

　● 鈣鈦礦光傳感器 （PPD， Perovskite Photodiode）。

　● 量子點光傳感器（QDPD， Quantum Dots Photodiode）。

　● 新型材料光傳感器。

實證

　●NEP/D*：

PD-QE可直接針對器進進行頻率雜訊的測量與作圖。

　●EQE光譜：

　　PD-QE 可以進行 EQE 光譜測試。除了標準的 300nm ~ 1100nm 波段，PD-QE 可擴展到 1800nm。圖中顯示不同波長響應器件，在 PD-QE 系統下，測的 EQE 量子效率光譜。

　● 整合多種SMU控制進行IV曲線測試：

　　PD-QE 已整合 Keithley 與 Keysight 出產的多種 SMU，進行多種的 IV 曲線掃描。用戶無需另外尋找或是自行整合 IV 曲線測試。圖中顯示 PD-QE 測試不同樣品的 IV 曲線，并進行多圖顯示。

　●噪聲電流頻譜圖：

　　PD-QE 憑借*進數字訊號采集與處理技術，直接可測試各種探測器在不同頻率下的噪聲電流圖。用戶無需在額外購買、整合頻譜分析儀進行測種測試！并且軟件可以進行多種頻段的特性分析，如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是針對新世代 PD 測試的完整解決方案。